یکشنبه, ۵ تیر , ۱۴۰۱
Sunday, 26 June , 2022
«تولید، دانش بنیان، اشتغال زایی»
جستجو
راه اندازی دستگاه طیف‌بینی فوتوالکترون پرتو ایکس توسط محققان دانشگاه اصفهان
1

دکتر یعقوب فتح‌الهی، مدیرکل دفتر حمایت و پشتیبانی امور پژوهشی وزارت علوم، تحقیقات و فناوری از نصب و راه‌اندازی دستگاه طیف بینی فوتوالکترون ایکس (XPS) توسط محققان آزمایشگاه مرکزی دانشگاه اصفهان که به دلیل مشکلات فنی و تحریم‌های ظالمانه به مدت ۱۲ سال بلااستفاده مانده بود، خبر داد. به گزارش اداره کل روابط عمومی وزارت […]

پ
پ


دکتر یعقوب فتح‌الهی، مدیرکل دفتر حمایت و پشتیبانی امور پژوهشی وزارت علوم، تحقیقات و فناوری از نصب و راه‌اندازی دستگاه طیف بینی فوتوالکترون ایکس (XPS) توسط محققان آزمایشگاه مرکزی دانشگاه اصفهان که به دلیل مشکلات فنی و تحریم‌های ظالمانه به مدت ۱۲ سال بلااستفاده مانده بود، خبر داد.

به گزارش اداره کل روابط عمومی وزارت علوم، دکتر فتح الهی با اعلام این خبر اظهار داشت: دستگاه طیف بینی فوتوالکترون پرتو ایکس در سال ۱۳۸۸ از محل بودجه ارزی وزارت علوم، تحقیقات و فناوری به سفارش یکی از دانشگاه‌های کشور خریداری شده بود، اما به دلیل نبود امکانات و زیرساخت‌های لازم در آن دانشگاه و نیز عدم همکاری کشور آلمان به عنوان سازنده این دستگاه به جهت تحریم‌های ظالمانه، متاسفانه به مدت ۱۲ سال بدون استفاده مانده بود.

وی ادامه داد: با پیگیری‌های مستمر آزمایشگاه مرکزی دانشگاه اصفهان و با حمایت معاونت پژوهشی وزارت علوم، تحقیقات و فناوری، سرانجام این دستگاه جهت نصب و راه اندازی به دانشگاه اصفهان منتقل شد.

مدیرکل دفتر حمایت و پشتیبانی امور پژوهش تصریح کرد: متعاقب انتقال این دستگاه به دانشگاه اصفهان، آزمایشگاه مرکزی دانشگاه، متولی پیگیری امور راه‌اندازی دستگاه شد و با وجود چندین بار مذاکره با شرکت سازنده آلمانی برای نصب و راه‌اندازی این دستگاه، این شرکت به دلیل تحریم‌ها از همکاری خودداری کرد.

دکتر فتح‌الهی خاطرنشان کرد: سرانجام با تلاش‌ها و پیگیری‌های صورت گرفته این دستگاه با همکاری متخصصان ایرانی و اعضای هیات علمی و کارشناسان آزمایشگاه مرکزی دانشگاه اصفهان نصب و راه‌اندازی شد.

مدیرکل دفتر حمایت و پشتیبانی امور پژوهش در پایان با تشریح کاربرد دستگاه طیف بینی فوتوالکترون پرتو ایکس در فعالیت‌های علمی و آزمایشگاهی اظهار داشت: این دستگاه برای شناسایی و تعیین مقدار عناصر روی سطح (فاصله ۱۰ نانومتر) برای تمامی سطوح به جز هیدروژن و هلیم، شناسایی فرمول تجربی، شناسایی حالت شیمیایی و الکترونی هر عنصر روی سطح، شناسایی ناخالصی‌های روی سطح، پروفایل‌های ترکیبی توزیع عنصری در فیلم‌های (لایه‌های) نازک و آنالیز ترکیب نمونه‌ها، هنگامی که باید از تأثیرات مخرب تکنیک های اشعه الکترونی، پرهیز شود، کاربرد دارد.



Source link

ثبت دیدگاه

  • دیدگاه های ارسال شده توسط شما، پس از تایید توسط تیم مدیریت در وب منتشر خواهد شد.
  • پیام هایی که حاوی تهمت یا افترا باشد منتشر نخواهد شد.
  • پیام هایی که به غیر از زبان فارسی یا غیر مرتبط باشد منتشر نخواهد شد.